专利摘要：本实用新型提供一种高密度测试芯片的超高速测试系统，至少包括函数发生器、源测量单元、可编程逻辑器件；所述可编程逻辑器件用于获取测试算法的触发信号并传递至所述源测量单元；所述函数发生器连接有地址寄存器，所述地址寄存器根据时钟信号中波形的变换切换地址；所述源测量单元被配置为对接收到的时钟信号进行连续采样，每个地址对应多个采样数据。通过硬件同步触发并配合SMU连续采样的方式实现超高速测试。
今年以来广立微新获得专利授权25个，较去年同期增加了4.17%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了9313.46万元，同比增98.72%。
数据来源：企查查
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